一、仪器名称：扫描探针显微镜

规格型号：Mutimode 8 Nanoscope V system

生产厂商：美国Bruker公司(原Veeco)

二、仪器性能

主要技术参数：

(1) 分 辨 率：X、Y轴精度1nm；Z轴精度0.1nm

(2) 噪声水平：<0.3 Å

(3) 扫描范围：0.4µm x 0.4µm x 0.4µm；10µm x 10µm x 2.5µm；125µm x 125µm x 5µm (x、y、z)

主要用途：能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌；同时可对样品表面物理化学特性进行研究，如表面组分区别、温度、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力和其他表面力以及电化学相互作用力的测量；同时可以对样品表面进行纳米尺度的刻蚀和加工。

三、安放地点 实验楼A座 110室

四、样品要求样品尺寸：直径<10mm，厚度<3mm

五、联系方式

负责人：任晓荣

电 话：692407